《現(xiàn)代測試技術(shù)》是筆者在多年教學(xué)經(jīng)驗的基礎(chǔ)上并參考了國內(nèi)外同類優(yōu)秀教材及文獻編著而成。內(nèi)容上圍繞材料的結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成及微觀形貌的表征，設(shè)置了晶體學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射技術(shù)、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡及電子探針、紅外光譜和拉曼光譜等幾個部分，主要介紹了材料測試的各種技術(shù)方法的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)構(gòu)造及應(yīng)用，涵蓋新方法、新技

光學(xué)測試技術(shù)是利用光學(xué)方法測量光學(xué)量與非光學(xué)量的一門應(yīng)用技術(shù)的學(xué)科。它的內(nèi)容隨著科學(xué)技術(shù)和工藝水平的發(fā)展，變得越來越豐富。當(dāng)代的電子技術(shù)、激光技術(shù)、傳感器技術(shù)以及計算機技術(shù)日新月異，并且快速的應(yīng)用到光學(xué)測量領(lǐng)域中，使得現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)早已成為一門多領(lǐng)域交叉融合的綜合學(xué)科。本書主要內(nèi)容：首先介紹了光學(xué)測量的基本知識；然后

本書是介紹納米計量的發(fā)展現(xiàn)狀、相關(guān)技術(shù)及其在多個產(chǎn)業(yè)中應(yīng)用的一本技術(shù)專著，來源于筆者及所在實驗室同仁們在納米計量領(lǐng)域的研究工作。本書以納米計量為主線，主要包括技術(shù)和應(yīng)用兩大部分。在技術(shù)部分主要介紹了納米計量的基本內(nèi)容以及涉及的納米檢測技術(shù)；在應(yīng)用部分主要選取納米計量在先進制造產(chǎn)業(yè)、生物醫(yī)藥產(chǎn)業(yè)、微電子與集成電路產(chǎn)業(yè)的典

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單位不僅僅支撐著我們的日常生活，它們也是協(xié)助我們探索和理解世界及宇宙的工具。單位還會幫我們理解和表達自己。在我們想把自己的想法告訴朋友和家人的時候，或者在我們想要理解對方的時候，單位都能發(fā)揮作用。在我們沒有意識到的地方，單位悄悄地豐富著我們的生活。我們會發(fā)現(xiàn)原來我們無時無刻不被單位圍繞著，單位在我們的生活中是如此的必不

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