中子散射技術(shù)是研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)和動(dòng)態(tài)的重要手段。本書(shū)從基本物理原理出發(fā)，系統(tǒng)闡述了中子散射的相關(guān)理論。在理論的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步詳解了中子散射方法在諸多體系中的應(yīng)用，包括固體、液體、軟物質(zhì)、高分子、界面與薄膜，以及磁性材料。同時(shí)還介紹相關(guān)譜儀的原理，如衍射譜儀、小角散射譜儀、三軸譜儀、飛行時(shí)間譜儀、自旋回波譜儀、反射譜儀等

如何從頭開(kāi)始做一個(gè)蘋(píng)果派？告訴我蘋(píng)果派的配方吧。蘋(píng)果。好的，那么蘋(píng)果的成分是什么？蘋(píng)果的配方呢？ 想要從頭開(kāi)始做一個(gè)蘋(píng)果派，你必須先創(chuàng)造宇宙�？�爾·薩根（CarlSagan） 沒(méi)錯(cuò)，面對(duì)我們最熟悉不過(guò)的食物，如果我們要從頭做，就等于要破解這個(gè)世界最微觀的奧秘，也是要探尋這個(gè)宇宙宏大的命運(yùn)。來(lái)自劍橋大學(xué)的粒

Thistextbookisaddressedtograduateandpost-graduatestudentsinPhysics.ltisintendedtoprovideaself-containedintroductiontotheprinciplesofQuantumMechanics,basedonthea

高能宇宙射線與大氣相互作用產(chǎn)生大量次級(jí)中子，在半導(dǎo)體器件中引起中子單粒子效應(yīng)，可導(dǎo)致電子系統(tǒng)產(chǎn)生軟錯(cuò)誤或者硬損傷，影響飛機(jī)或者臨近空間飛行器飛行的可靠性和安全性。本書(shū)主要介紹大氣中子輻射環(huán)境及建模、中子輻射模擬裝置和中子輻射環(huán)境測(cè)量技術(shù)、中子單粒子效應(yīng)機(jī)理與數(shù)值模擬方法，以及實(shí)驗(yàn)方法和數(shù)據(jù)處理方法，并給出單能中子源、散

本書(shū)介紹了中子的基本性質(zhì)、中子與物質(zhì)的相互作用、常見(jiàn)中子源及中子探測(cè)器的一些基礎(chǔ)知識(shí)；較為系統(tǒng)地介紹了應(yīng)用中子物理學(xué)中常見(jiàn)、基礎(chǔ)性實(shí)驗(yàn)，主要包括：中子通量測(cè)量、中子能譜測(cè)量、中子場(chǎng)劑量測(cè)量、中子防護(hù)與屏蔽、核素俘獲中子截面測(cè)量、中子活化分析以及常見(jiàn)中子技術(shù)應(yīng)用拓展等；并提供了常用中子源及其特性、元素與常見(jiàn)分子的截面和核

量子色動(dòng)力學(xué)相變

本書(shū)旨在通過(guò)介紹高能物理的基礎(chǔ)知識(shí)和一些里程碑式的成果，將學(xué)生帶到這一研究領(lǐng)域的最前沿，盡量避免煩瑣的理論公式。本書(shū)開(kāi)始的導(dǎo)論和對(duì)稱性兩章是基礎(chǔ),接著介紹部分子的分布函數(shù)和碎裂函數(shù)。第四章力求用最簡(jiǎn)潔的形式講清標(biāo)準(zhǔn)模型理論。第五章介紹QCD的色代數(shù)、正規(guī)化和重整化及DGLAP方程，三噴注事例的發(fā)現(xiàn)也放在了該章的最后。第

世間萬(wàn)物，都可以解釋為兩種夸克、電子和中微子的無(wú)限組合。理解構(gòu)成世界的基本粒子，是理解宇宙的開(kāi)始。本書(shū)詮釋了夸克、輕子和支配粒子物理學(xué)的力的復(fù)雜世界。從物理學(xué)深刻且基本的問(wèn)題，如現(xiàn)實(shí)的終本質(zhì)是什么是否存在小的粒子，到宏觀宇宙本身的創(chuàng)建及其終命運(yùn)，粒子物理學(xué)研究都提供了指引。作者繞過(guò)復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算，通過(guò)生動(dòng)的語(yǔ)言、清晰的

本書(shū)以北京核儀器廠生產(chǎn)的科研教學(xué)用核儀器和NIM插件為基礎(chǔ)，以能譜分析和強(qiáng)度測(cè)量為主線而編寫(xiě)。從輻射信號(hào)的產(chǎn)生、接收、預(yù)處理、數(shù)據(jù)分析到結(jié)果顯示，內(nèi)容覆蓋核輻射探測(cè)器的非電量轉(zhuǎn)換，信號(hào)預(yù)處理，核輻射的能量、強(qiáng)度、成分、含量的測(cè)量與分析，以及這些技術(shù)在各個(gè)工程技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用。

本書(shū)從金剛石膜晶體機(jī)構(gòu)、光電及熱性能等基本概念出發(fā)，描述膜的制備工藝；在成功制得[100]定向金剛石膜基礎(chǔ)上，對(duì)它和其它晶面取向的CVD金剛石膜進(jìn)行全面的表征；介紹了金剛石薄膜肖特基場(chǎng)效應(yīng)晶體管和金剛石薄膜紫外光探測(cè)器。在此基礎(chǔ)上研究了金剛石膜粒子探測(cè)器的制備工藝，并通過(guò)所設(shè)計(jì)的信號(hào)處理系統(tǒng)測(cè)量得到在不同粒子輻照下的探