本書主要介紹印制電路板設(shè)計與制作的基本方法，采用的設(shè)計軟件為ProtelDXP2004SP2。內(nèi)容采用練習(xí)、產(chǎn)品仿制和自主設(shè)計三階段的模式編寫，逐步提高讀者的設(shè)計能力。全書通過剖析實際產(chǎn)品，介紹PCB的布局、布線原則和設(shè)計方法，突出實用性、綜合性和先進性，幫助讀者迅速掌握軟件的基本應(yīng)用，具備PCB的設(shè)計能力。本書重點突

本書詳細介紹VLSI設(shè)計和制造的基本原理，內(nèi)容涵蓋VLSI設(shè)計中的多個關(guān)鍵領(lǐng)域，如靜態(tài)時序分析、CMOS設(shè)計和布局、物理設(shè)計自動化、VLSI電路測試，以及FPGA原型設(shè)計和ASIC設(shè)計中使用的工具。章末附有中端和后端面試經(jīng)典問題及解答，可幫助讀者更好地理解和應(yīng)用VLSI設(shè)計知識。

本書通過實際案例介紹高級HDL綜合與SoC原型設(shè)計，提供有關(guān)SoC和ASIC設(shè)計性能改進的實用信息。本書共16章，內(nèi)容包括SoC設(shè)計、RTL設(shè)計指南、RTL設(shè)計和驗證、處理器設(shè)計和架構(gòu)設(shè)計、SoC設(shè)計中的總線和協(xié)議、存儲器和存儲控制器、DSP算法與視頻處理、ASIC和FPGA綜合、靜態(tài)時序分析、SoC原型設(shè)計、SoC原

本書是編著者結(jié)合多年的工程實踐、培訓(xùn)經(jīng)驗及積累的資料，并借鑒國內(nèi)外經(jīng)典教材、文獻和專業(yè)網(wǎng)站的文檔等編著而成的。本書全面介紹了SoC的主要構(gòu)成和設(shè)計環(huán)節(jié)。本書首先介紹了SoC的構(gòu)成、設(shè)計流程和設(shè)計方法學(xué)，接著分章介紹了處理器子系統(tǒng)、存儲子系統(tǒng)、總線、外設(shè)及接口子系統(tǒng)。本書注重基本概念、方法和技術(shù)的討論，加強了對SoC設(shè)計

本書是編著者結(jié)合多年的工程實踐、培訓(xùn)經(jīng)驗及積累的資料，并借鑒國內(nèi)外經(jīng)典教材、文獻和專業(yè)網(wǎng)站的文檔等編著而成的。本書全面介紹了SoC的主要構(gòu)成和設(shè)計環(huán)節(jié)。本書依次介紹了時鐘及產(chǎn)生電路、復(fù)位及其同步化、跨時鐘域設(shè)計、低功耗設(shè)計、標(biāo)準(zhǔn)庫、設(shè)計約束和邏輯綜合、驗證、DFT。本書注重基本概念、方法和技術(shù)的討論，加強了對SoC設(shè)計

本教材共五篇23章。第一篇介紹集成電路制造的器件基礎(chǔ)，包括MOSFET器件、功率器件、邏輯芯片和存儲芯片；第二篇介紹集成電路制造的工藝設(shè)計基礎(chǔ)，包括工藝設(shè)計套件(PDK)、光刻掩模版技術(shù)、光學(xué)臨近修正和集成電路工藝及器件仿真工具TCAD；第三篇介紹集成電路制造基本工藝，包括光刻、刻蝕、薄膜、摻雜、離子注入和清洗；第四篇

聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）是微納材料芯片失效分析的核心技術(shù)裝備之一。隨著材料、器件的微尺度化（納米甚至原子尺度）、高集成化（每平方厘米集成10億個以上的功能單元）、多功能化（在多種外場條件下工作），越來越多的材料微結(jié)構(gòu)研究、器件研發(fā)涉及聚焦離子束。本書從聚焦離子束的結(jié)構(gòu)原理出發(fā)，緊密聯(lián)系應(yīng)用與實

本書主要面向電子信息類非微電子專業(yè)學(xué)生的入門性質(zhì)的課程，書中將從電子系統(tǒng)設(shè)計者的視角，介紹集成電路全產(chǎn)業(yè)鏈各個環(huán)節(jié)的基本原理和設(shè)計基礎(chǔ)。本書被列入集成電路新興領(lǐng)域“十四五”高等教育教材。全書內(nèi)容包括：緒論、集成電路制造工藝基礎(chǔ)及版圖設(shè)計、集成電路中的元器件、模擬集成電路設(shè)計—信號鏈與電源管理、數(shù)字集成電路設(shè)計—單元電路

本書分為基礎(chǔ)篇、方法篇和應(yīng)用篇，共七章�；�礎(chǔ)篇(第一、二章)介紹了什么是不確定性、不確定性量化這一交叉學(xué)科的發(fā)展現(xiàn)狀，以及不確定性建模和相關(guān)基礎(chǔ)知識。方法篇(第3-5章)從不確定性量化的研究目標(biāo)出發(fā)，梳理了參數(shù)不確定性、模型不確定性和逆向建模這3類不確定性量化常見問題及對應(yīng)量化方法。應(yīng)用篇(第6、7章)針對不確定性量化

"本書力求將芯片基礎(chǔ)知識理論與案例實踐融合在一起進行詳細介紹。幫助讀者理解芯片相關(guān)多個模塊開發(fā)工作原理，同時兼顧了應(yīng)用開發(fā)的技術(shù)分析與實踐。本書包含大量翔實的示例和代碼片段，以幫助讀者平穩(wěn)、順利的掌握芯片開發(fā)技術(shù)。全書共10章，包括RISC-V技術(shù)分析；PCIE，存儲控制，以及總線技術(shù)分析；NPU開發(fā)技術(shù)分析；CUDA