本書介紹了如何使用Python語(yǔ)言進(jìn)行物理建模，包括完成二維和三維圖形繪制、動(dòng)態(tài)可視化、蒙特卡羅模擬、常微分方程求解、圖像處理等常見任務(wù)。本書在第1版的基礎(chǔ)上增加了關(guān)于用SymPy進(jìn)行符號(hào)計(jì)算的新內(nèi)容，介紹了用于數(shù)據(jù)科學(xué)和機(jī)器學(xué)習(xí)的pandas和sklearn庫(kù)、關(guān)于Python類和面向?qū)ο缶幊痰娜腴T知識(shí)、命令行工具，以及如何使用Git進(jìn)行版本控制。本書適合對(duì)科學(xué)計(jì)算感興趣、想要使用Python完成物理建模的學(xué)生和研究人員閱讀。

本書是以教育部高等學(xué)校大學(xué)物理課程教學(xué)指導(dǎo)委員會(huì)制定的《理工科類大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)課程教學(xué)基本要求》為原則，結(jié)合上海工程技術(shù)大學(xué)歷年來(lái)的教學(xué)改革和教學(xué)經(jīng)驗(yàn)編寫而成。本書的實(shí)驗(yàn)分為三個(gè)部分，第一部分為基礎(chǔ)理論部分，包括“測(cè)量與誤差”、“基本實(shí)驗(yàn)方法與技術(shù)”等內(nèi)容；第二部分為基礎(chǔ)綜合實(shí)驗(yàn)，每個(gè)實(shí)驗(yàn)都安排了觀察和測(cè)量的內(nèi)容，第三部分為創(chuàng)新設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，它需要綜合應(yīng)用理論和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本教材可用于普通高等學(xué)校的理工科各專業(yè)的“大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)”教材。對(duì)于愛好大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)的讀者，本書也具有重要的參考價(jià)值。

CEI（connectedelementinterferometry，連線干涉測(cè)量，也可稱為“短基線干涉測(cè)量”）技術(shù)是干涉測(cè)量技術(shù)的一種，其基線長(zhǎng)度一般為幾十千米；其通過對(duì)載波相時(shí)延的測(cè)量，進(jìn)而實(shí)時(shí)獲得目標(biāo)相對(duì)于基線矢量的精確角位置，可適用于中高軌衛(wèi)星的高精度測(cè)定軌及相對(duì)定位�！禖EI測(cè)量技術(shù)原理、系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用》重點(diǎn)介紹了CEI技術(shù)的基本原理，CEI系統(tǒng)的設(shè)計(jì)構(gòu)建，實(shí)現(xiàn)CEI所突破的關(guān)鍵技術(shù)，以及CEI技術(shù)的工程應(yīng)用實(shí)例；內(nèi)容豐富全面，理論與實(shí)踐并重�！禖EI測(cè)量技術(shù)原理、系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用》有助

本書系統(tǒng)地介紹了物理和材料研究領(lǐng)域常用的單晶生長(zhǎng)和薄膜制備方法，以及用來(lái)表征晶體或薄膜結(jié)構(gòu)、顯微組織、形貌、成分、價(jià)態(tài)等方面的分析技術(shù)；涵蓋了X射線衍射技術(shù)、各種電子顯微技術(shù)、掃描探針技術(shù)、能譜技術(shù)、表面物理分析技術(shù)、核物理方法測(cè)試技術(shù)和光譜分析技術(shù)。并對(duì)這些分析技術(shù)的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)和應(yīng)用等進(jìn)行了系統(tǒng)的闡述。具體涉及的分析儀器包括X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀、波譜儀、低能電子衍射、高能電子衍射、俄歇電子能譜、X射線光電子能譜、掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、正電子湮沒技