本書包括9個項目，分別為常用半導體元件性能與測試、線性放大電路制作與測試、集成運算放大器應用電路制作與測試、波形產(chǎn)生和變換電路制作與測試、電源電路制作與測試、基本邏輯電路制作與測試、組合邏輯電路制作與測試、觸發(fā)器和時序邏輯電路制作與測試、數(shù)/模和模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路制作與測試。